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TOPAZ 16

TOPAZ® 16

 

小尺寸、大屏幕

 

    设计小巧、功能强大

 

TOPAZ 16为ZETEC开发的一台全集成便携式16通道超声相控阵检测仪器,可同时激发16晶片进行自发自收检测,且最大可支持128晶片探头实现大范围覆盖,支持双PAUT+TOFD同时进行检测,配备10.4英寸多点触控高清显示屏,内置UltraVision@ Touch软件,支持高级聚焦法则计算,检测、分析、报告生成整套流程均由TOPAZ 16一台设备完成,为业内领先设计。

 


 

TOPAZ 16当前具有两种可选型号:

 

  • 16/64P
  • 16/128P

 

TOPAZ 16可适用于大多数常规检测应用:

 

  • 碳钢焊缝检测
  • 金属平板或管道腐蚀
  • 复合材料分层检测
  • 搅拌摩擦焊
  • 薄壁不锈钢检测
  • 小径管检测

 

TOPAZ 16性能特点:

 

  • 10.4英寸多点触控高清显示屏设计,1024*768 分辨率                                          
  • 密闭的铝外壳式设计结构紧凑、轻巧便携,整机重量4.5Kg                               
  • 具有1高质量卡锁式相控阵接口,2个常规超声Lemo 00接口,可用于P/E、P/C或TOFD模式的检测
  • 外置无空气吸入式风扇,良好的散热与防尘抗噪特性适用于的现场检测环境
  • 2块可热插拔式电池可持续供电8小时以上      
  • 内置UltraVision® Touch软件,支持高级聚焦法则计算,3D工件视图显示,具有良好的人机交互界面
  • HDMI视频输出接口,128G SSD固态硬盘使数据传输更快                                
  • 1 USB3.0,3 USB2.0接口,1000Base-T以太网络接口有效提高数交换速度       
  • 16位波幅分辨率,大大提高信号幅值精度,有利于更加准确的缺陷判读

 

碳钢焊缝检测:

 

平板或管道对接焊缝的检测可选择:TOPAZ 16+Wled Crawler自动或手动扫查器可以实现双PAUT+TOFD检测同时进行,且可以实现扫查数据编码记录。TOPAZ 16支持视频数据与扫查数据同屏显示处理,配备视频监控与红外指示线可防止探头移动轨迹发生偏离,大大提高了检测精度及效率。

TOPAZ 16一台即可完成PAUT+TOFD聚焦法则的快速设置,检测前的准备工作只需要单人即可完成。

 

16平板检测
平板双侧PAUT+TOFD扫查

 

16与Wledcrawler
管道双侧PAUT+TOFD扫查

 

图片3
PAUT+TOFD聚焦法则设置

 

图片7
Weld Crawler扫查器+ZMC4运动控制器

 

图片8
缺陷扫查图像

 

TOPAZ 16在焊缝检测中具有较好的检测效果,设备简单,不需要太多的检测设备就可以得到很好的检测结果,尽管仪器尺寸较小但是依旧具备了高分辨率的显示屏,16位的波幅分辨率可以让信号达到800%的全屏高度,保证了检测结果的精确性。

在进行碳钢焊缝检测时,TOPAZ 16一台设备即可完成PAUT+TOFD的检测,内置的UltraVision Touch软件支持利用TOPAZ 16完成检测设置,数据采集,数据分析,报告生成一整套检测流程,同时结合Weld Crawler扫查器+ZMC4运动控制器(由TOPAZ 16控制),可实现焊缝自动扫查,大大提高了检测的效率,为企业节约了大量的时间与成本。

 

 

金属平板或管道腐蚀检测:

 

金属平板或管道腐蚀检测可选择:TOPAZ 16+PaintBrush刷式扫查器,TOPAZ 16具备16位的波幅分辨率,有效提高了信号的幅值精度,结合刷式扫查器可以得到两轴编码的C扫描数据,且通过实时成像可以清晰的从C扫描图像上看到工件内部的情况,从而有效提高了工件检测效率。

 

paintbrush

 

 

复合材料分层检测:

 

TOPAZ 16+PaintBrush刷式扫查器,复合材料检测通常不需要很大的激发孔径实现较深的聚焦,但是需要探头可以支持足够的晶片数以实现较大的扫查区域覆盖,所以TOPAZ 16完全能够胜任此类检测应用。同时刷式扫查器具备专门用于复合材料检测的非磁性轮,通过精确的位置编码能够很好的将复合材料中缺陷还原到C扫描图像当中去。并且仪器内置的UltraVision@ Touch软件支持C扫描合成功能,可以对数据进行拼接处理达到一个工件完整显示。

 

CFPR
复合材料分层缺陷检测

 

且对于不同厚度,不同材料结构的复合材料可以更换不同晶片数及不同频率的探头,高频探头有助于提高小缺陷的分辨率,低频探头可以减小因材料带来的能量衰减,一发一收探头有助于减小表面盲区,提高信号的信噪比。

 

 

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